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GTEM500小室構成的輻射敏感度（抗擾度）測試系統(tǒng)為小型電子產(chǎn)品的輻射電磁場干擾敏感性提供有力的測試依據(jù)。測試系統(tǒng)構成：主要由標準信號源、功率放大器、場強監(jiān)視器、計算機及操控軟件和GTEM 室體組成。

GTEM500小室

PA3000 1月4日 0.04% 讀數(shù) + 0.04% 范圍 600 Vrms CAT II (2000Vpk) 30 Arms 直流到 1 MHz US $7,250

4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件 210V/100mA，0.1 fA 分辨率 對于兩端和三端設備，MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括：4200A-SCS 參數(shù)分析儀 (2) 4200-SMU 模塊 (1) 4200-PA 前置放大器 (1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備

4200A-SCS-PK2  高分辨率 IV 和 CV 套件 "210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz  對于高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括：

4200A-SCS 參數(shù)分析儀

(2) 4200-SMU 模塊

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊

(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備"

4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 "210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 對于功率設備、高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 設備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：對于功率設備、高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 設備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：

4200A-SCS 參數(shù)分析儀

(2) 4200-SMU 模塊

(2) 4210-SMU

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊

(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備"

4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 "用于使用* CMOS 技術套件進行復雜的 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 包括： (1) 4225-PMU 超快 I-V 模塊

(2) 4225-RPM 遠程前置放大器/開關模塊

自動化檢定套件 (ACS) 軟件

超快 BTI 測試項目模塊

電纜"

BSX125 1 12.5 Gb/s 128/2 - 配置與報價

BSX240 1 24 Gb/s 128/2 - 配置與報價

BSX320 1 32 Gb/s 128/2 - 配置與報價

CR125A 時鐘恢復儀器 12.5 Gb/s - 配置與報價

CR175A 時鐘恢復儀器 17.5 Gb/s - 配置與報價

CR286A 時鐘恢復儀器 28.6 Gb/s - 配置與報價

PED3201 1 通道誤碼檢測器 32 Gb/s - 配置與報價

PED4001 1 通道誤碼檢測器 40 Gb/s - 配置與報價

PED3202 2 通道誤碼檢測器 32 Gb/s - 配置與報價

PPG1251 1 通道可編程碼型發(fā)生器 12.5 Gb/s - 配置與報價

PPG1601 1 通道可編程碼型發(fā)生器 16 Gb/s - 配置與報價

PPG1602 2 通道可編程碼型發(fā)生器 16 Gb/s - 配置與報價

PPG3001 1 通道可編程碼型發(fā)生器 30 Gb/s - 配置與報價

PPG3201 1 通道可編程碼型發(fā)生器 32 Gb/s - 配置與報價