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Santec掃頻測試系統(tǒng)通過實(shí)時(shí)記錄可以同時(shí)獲取可調(diào)激光器的輸出功率與經(jīng)過DUT的傳輸功率，從而準(zhǔn)確計(jì)算出WDL/PDL的數(shù)據(jù)。采用Mueller矩陣生成快速的PDL測量方案。
此系統(tǒng)也可簡化為使用Santec 數(shù)據(jù)采集模塊(SPU-100)搭配其他光學(xué)的功率計(jì)或探測器，可廣泛用于WDL測試。
通過采樣和縮放算法在保持測試方案完整性上可以保持測試性能輸出。
另外，該系統(tǒng)尤其適用于DWDM和高Q光子器件光譜特性的測試。通過快速掃描和準(zhǔn)確測量可有效節(jié)省時(shí)間，以確保測試設(shè)備的完整性和有效性。

• 實(shí)時(shí)功率校正
  1 數(shù)字準(zhǔn)確/ PDL特性測試
  –高功率重復(fù)性＜±0.02db
  –高重復(fù)性±0.01db PDL
  2激光源功率自動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)化
• 調(diào)整方法
  1 高波長分辨率＆高精度
  2 縮短測量時(shí)間
• 支持多通道測量
• 支持LabVIEW控制軟件
  1 便于建立測量參數(shù)
  2 數(shù)據(jù)分析
• 光學(xué)器件和模塊特性
  --可調(diào)諧濾波器、光交叉波分復(fù)用器、光纖布拉格光柵（FBG） 、連接器
• 分離器、 隔離器 、開關(guān)
  --WSS、波長阻斷器 
  --DWDM器件
• 光學(xué)材料特性
• 光學(xué)光譜

  構(gòu)成例

  1/偏振測量相關(guān)
  

• 可調(diào)諧激光器TSL-710/TSL-550/TSL-510
• Santec PCU-100
• 光學(xué)功率計(jì)
• 光功率計(jì)Santec　MPM-200/Agilent 816xA/B, 774xA 光功率計(jì)

• 2/波長相關(guān)損耗測量（MPM-200）
  

• 可調(diào)諧激光器 TSL-710/TSL-550/TSL-510
• 光功率計(jì)Santec MPM-200

• 3/波長相關(guān)損耗（其它功率計(jì)）
  

• 可調(diào)諧激光器TSL-710/TSL-550/TSL-510
• 掃描處理模塊SPU-100
• 功率計(jì)（需要數(shù)據(jù)記錄功能）

• 軟件支持

• Agilent 816xA/B, N774xA光功率計(jì)
• Yokogawa AQ2200 系列光功率計(jì)
• 光檢測器

• 如果需要連接其他設(shè)備可以與我們的技術(shù)人員取得聯(lián)系。

  掃頻測試系統(tǒng)波長相關(guān)損失 (Wavelength Dependent Loss)測量

  1.測量動(dòng)態(tài)范圍-可測量80dB以上的高動(dòng)態(tài)范圍

  Santec可調(diào)諧激光器TSL系列，可降低ASE光噪音、實(shí)現(xiàn)了90dB/0.1nm以上*信噪比的同時(shí)，可維持+10dBm以上的高功率的輸出。高密度波分復(fù)用（DWDM）器件和WSS（Wavelength Selective Switch ）等在新一代器件評價(jià)中發(fā)揮其威力。以下是以各自帶通濾波器（CWDM濾波器）和噪音濾波器（FBG）的測量數(shù)據(jù)。

  

  2.測量的波長精度 +/-3pm

  Santec可調(diào)諧激光器TSL系列，配備了高性能的波長檢測器可進(jìn)行波長精度的測量。Acetylene（12C2H2）氣體分子作為波長參考

   

   

  3. 測量寬波長分辨率 <0.1pm

  在該掃描測試系統(tǒng)不僅可以測量為測量光學(xué)器件（包括密集波分復(fù)用（DWDM）器件、波長選擇開關(guān) （WSS）等），根據(jù)波長掃描分辨率可對濾波器（High Q腔裝置）進(jìn)行高效的測量。

  

  Parameter	Unit	Specications			Notes
  		TSL-550		TSL-710
  		Type A	Type B	–
  Wavelength Accuracy *1 (typ.) (Absolute)	pm	±16	±4.6	±2.4	At 10nm/s
  		±19	±7.2	±5.0	At 40nm/s
  Wavelength Accuracy (typ.) (Relative)	pm	±9	±3.1	±1.6	At 10nm/s
  		±12	±5.7	±4.2	At 40nm/s
  Wavelength Repeatability *2	pm	±6	±1.9	±1.0	At 10nm/s
  		±7	±3.5	±2.6	At 40nm/s
  Scan Speed	nm/s	1 to 100		0.5 to 100
  Dynamic Range for Insertion Loss (typ.)	dB	70
  Dynamic Range for PDL (typ.)	dB	0 to 5
  Measurement Time for IL (typ.)	sec	4			At 40nm/s *4, *5
  Measurement Time for IL / PDL (typ.)	sec	14			At 40nm/s *4, *5
  Wavelength Resolution	pm	1	0.1
  IL Accuracy (typ.)	dB	±0.02			0 to 20dB Device IL
  		±0.03			20 to 40dB Device IL
  IL Repeatability *2, *3 (typ.)	dB	±0.02(±0.01 (typ.))
  IL Resolution	dB	0.001
  PDL Accuracy (typ.)	dB	±(0.02 + 3% of PDL)			0 to 20dB Device IL
  		±(0.15 + 3% of PDL) (typ.)			20 to 40dB Device IL
  PDL Repeatability *2, *3 (typ.)	dB	±0.01
  PDL Resolution	dB	0.01
  Communication	–	USB (USB 2.0 High Speed)			MPM-200 / PCU-100 / SPU-100
  		GP-IB (IEEE488.2)			TSL-550 / TSL-710 / MPM-200 / PCU-100
  Operating Temperature	degC	15 to 35
  Operating Humidity	%	< 80			non-condensing

  * All specifications are quoted after 1 hour warm-up period. 
  All specifications applies with santec optical power meter MPM-200. 
  *1 Temperature within 25°C±5°C
  *2 Temperature within 25°C±1°C
  *3 Does not include influence of connector.
  *4 The measurement condition is within wavelength resolution 5pm, wavelength range 40nm for 1 channel.
  *5 Measurement dynamic range per scan is up to 35dB.